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EnShape Detect 20

Unsere Technologie

3D-Sensoren von EnShape – einfach, schnell und hoch-präzise Messen

3D-Sensoren mit strukturierter Beleuchtung gehören zu den genauesten optischen Verfahren für die vollflächige 3D-Vermessung makroskopischer Objekte. Oftmals begrenzen jedoch Projektionsrate und Lichtleistung der strukturierten Beleuchtung die Performance etablierter Systeme.

EnShape nutzt eine einzigartige, patentierte Projektionstechnologie, welche hohe Projektionsraten und Lichtleistungen ermöglicht. Damit lassen sich bisher unerreicht kurze Messzeiten für die vollflächige und hoch genaue 3D-Vermessung erzielen. Durch die Verwendung hoch performanter Algorithmen werden zusätzlich die anfallenden Messdaten in Millisekunden prozessiert und die resultierenden 3D-Punkte mit geringer Latenz bereit gestellt.

Welche Vorteile bietet dieser Ansatz im Vergleich zu etablierten System?

Vergleich zur Einzelmusterprojektion 

Im Vergleich zu marktüblichen 3D-Sensoren mit Einzelmusterprojektion ist die Präzision der Messdaten von EnShape-Sensoren deutlich besser, d.h. bei gleicher lateraler Auflösung können mehr Objektdetails und feinere Höhenunterschiede detektiert werden. Dies ermöglicht oder erleichtert beispielsweise die Erkennung und Unterscheidbarkeit kleiner bzw. flacher Objekte bei robotergestütztem Produkthandling

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Vergleich zur Streifenprojektion

Im Vergleich zu marktüblichen Streifenprojektionssystemen ist die Messzeit deutlich kürzer, d.h. bei gleicher lateraler Auflösung ist die Zeit der optischen Antastung von EnShape-Sensoren signifikant verkürzt ohne Abstriche bei der Präzision der Messdaten in Kauf nehmen zu müssen . Dadurch können einzelne Objekte in sehr kurzer Zeit oder viele Objekte in hoher Rate inline inspiziert werden.

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Vergleich zum Laserlichtschnittverfahren

Im Vergleich zu Laserlichtschnittsensoren oder Systemen mit mehreren Laserlinien ist keine Bewegung des Objektes notwendig um eine Oberfläche vollflächig und dicht zu erfassen, d.h. mit jeder Einzelmessung werden bereits vollflächige Oberflächeninformationen gewonnen.

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